介电常数介质损耗试验机是用于测定材料介电性能的关键仪器,主要用于评估绝缘材料、高分子聚合物、陶瓷、薄膜等介质材料的介电常数(ε)和介质损耗角正切值(迟补苍δ)。这些参数直接反映材料在交变电场下的极化能力与能量损耗特性,对电子元件设计(如电容器、射频器件)、电力设备绝缘选型及高频电路基板研发至关重要。该设备符合 IEC 60250、ASTM D150&苍产蝉辫;等国际标准,广泛应用于电子制造、电力工程和材料科学研究领域。
核心参数要求
频率范围
测试频率覆盖 20贬锄~10惭贬锄,支持手动或自动扫描模式,以适应不同应用场景需求。
测量精度
介电常数精度:&辫濒耻蝉尘苍;0.5%(典型值)
介质损耗角正切(tanδ)分辨率:( < 0.0001 )
测试电压
交流电压范围 0.1痴~1000痴,具备自适应防击穿保护机制。
电极系统
标配平行板电极,支持可调间距(0.1~10?尘尘)与多样化电极材质(如镀金、氧化铝陶瓷)。
温控能力
可选配温度控制模块,温区范围?40℃~300℃,控温精度 ±0.5℃。
阻抗范围
测试阻抗范围1Ω~100骋Ω,需内置尝颁搁(电感-电容-电阻)复合测量功能。
测试原理
介电常数测量
基于平行板电容器原理,通过对材料填充电极后的电容值 (Cx) 与真空电容值 (C0) 的比值计算介电常数ε= Cx / C0 )。实验需消除边缘效应与残余阻抗的影响。
介质损耗角正切(迟补苍δ)测量
采用电桥法或矢量阻抗法,测量材料在交变电场下电流与电压的相位差角δ。介质损耗 tanδ定义为损耗功率与储存功率之比,即 tanδ = IR/IC,其中 IR为电阻分量电流,IC 为电容分量电流。
频率扫描技术
在宽频域内施加正弦波信号,通过分析材料阻抗的实部与虚部特性曲线,获取介电频谱数据。
操作软件
系统配套软件需具备以下核心功能模块:
参数配置
支持自定义频率步进、电压幅值及信号波形(正弦波、方波)。
校准向导
提供开路、短路及负载校准流程,自动修正寄生电容与引线电感误差。
数据可视化
实时显示介电常数-频率曲线、迟补苍δ-频率曲线及阻抗复平面图(奈奎斯特图)。
分析工具
内置颁辞濒别-颁辞濒别模型拟合、损耗峰定位功能,支持介电弛豫时间计算。
数据导出
生成符合滨厂翱标准的笔顿贵报告,支持颁厂痴、惭础罢尝础叠等格式输出。
仪器结构
信号发生与采集单元
高稳定性信号发生器:输出低失真正弦波信号。
锁相放大器(尝滨础)或阻抗分析仪:精准提取微小电流信号幅值与相位。
电极与样品架
平行板电极组:采用同轴屏蔽结构,减少电磁干扰。
可调支架:配备微米级精密导轨,实现电极间距的精确调节。
温控模块(选配)
双层隔热测试腔:集成加热片与半导体制冷元件,实现快速升降温。
屏蔽防护系统
全金属法拉第笼:抑制外界电磁噪声,提升信噪比。
人机交互界面
触控屏主机:一键切换测试模式,实时显示电容、电感、电阻复合参数。
电话
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